学生研究発表：深澤祐樹（コンピュータデザイン研究室）
深澤祐樹君（博士後期課程3年）が下記のように研究発表を行いました．
- 研究会名：IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- 開催日時：2012年11月22日
- 開催場所：朱鷺メッセ＠新潟
- 発表タイトル：A Study on Error Correctable Test Pattern Generator for Reliable Built-in Self Test
深澤祐樹君（博士後期課程3年）が下記のように研究発表を行いました．